Laboratorium Badań Struktury i Właściwości

                                                                                                                                                      Wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Scios FEG
wyposażony w działo elektronowe z termiczną emisją polową
wraz z dodatkowym wyposażeniem w systemy mikroanalizy rentgenowskiej (EDS)
oraz dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD)

 

Oferta:

badania akredytowane ZAKRES AKREDYTACJI AB_494

badania metalograficzne

  • mikroskopia świetlna
    -badania makro i mikrostruktury metali, stopów, kompozytów, materiałów ceramicznych i ich połączeń,
    materiałów litych
    -interpretacja obrazów mikrostruktury oraz identyfikacja składników fazowych i mikrostrukturalnych
    -obserwacje powierzchni szorstkich
  • mikroskopia elektronowa
    -wizualizacja topografii powierzchni próbki i obserwacja morfologii składników mikrostruktury
    -określenie składu chemicznego w mikroobszarach
  • badania adhezyjne
    -pomiar twardości instrumentalnej i twardości poszczególnych składników strukturalnych,
    rozkład twardości
    -proces dyfuzji w metalach i ich stopach
    -wyznaczanie modułu elastyczności, pracy plastycznej, elastycznej, płynięcia materiału
    -badanie odporności na kruche pękanie
    -badanie odporności powłok na zarysowania

badania właściwości mechanicznych

  • statyczna próba rozciągania, ściskania, zginania w temperaturze otoczenia
    (możliwość badania w temperaturach obniżonych i podwyższonych)
  • próby udarności metodą Charpy‘ego w temperaturze otoczenia i obniżonej
  • pomiar twardości metodą Brinella, Rockwella i Vickersa
  • badania dla potrzeb certyfikacji wyrobów (badania zwieńczeń wpustów i studzienek kanalizacyjnych)

 

Wielofunkcyjna platforma badawcza
do oznaczania właściwości mechanicznych materiałów litych oraz właściwości powłok i warstw
w skali nano i mikro
wyposażona w głowicę nano i mikrotwardościomierza oraz głowicę scratch testera
pomiar twardości instrumentalnej zależność siły obciążającej w funkcji głębokości penetracji
pomiar kontrolowanego zarysowania powierzchni próbki diamentowym wgłębnikiem
pod liniowo narastającym obciążeniem

Szanowni Państwo, w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie,
w ramach naszego serwisu stosujemy pliki cookies. Korzystanie z witryny bez zmiany
ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane
w Państwa urządzeniu końcowym. Jeśli nie wyrażają Państwo zgody, uprzejmie prosimy
o dokonanie stosownych zmian w ustawieniach przeglądarki internetowej.
więcej informacji

To niewielkie informacje, nazywane ciasteczkami (z ang. cookie – ciastko), wysyłane przez serwis internetowy, który odwiedzamy i zapisywane na urządzeniu końcowym (komputerze, laptopie, smartfonie), z którego korzystamy podczas przeglądania stron internetowych. W „cookies”, składających się z szeregu liter i cyfr, znajdują się różne informacje niezbędne do prawidłowego funkcjonowania serwisów internetowych, np. tych wymagających autoryzacji – m.in. podczas logowania do konta pocztowego czy sklepu internetowego. Wszystkie działające w internecie serwisy – wyszukiwarki, strony informacyjne, newsowe, sklepy internetowe, strony urzędów państwowych i innych instytucji publicznych, mogą prawidłowo działać dzięki wykorzystaniu „cookies”. Ciasteczka umożliwiają także m.in. zapamiętanie naszych preferencji i personalizowanie stron internetowych w zakresie wyświetlanych treści oraz dopasowania reklam. Dzięki „cookies” możliwe jest też rejestrowanie produktów i usług czy głosowanie w internetowych ankietach. Dane osobowe gromadzone przy użyciu „cookies” mogą być zbierane wyłącznie w celu wykonywania określonych funkcji na rzecz użytkownika, czyli np. zapamiętania logowania do serwisu czy zapamiętania towarów dodanych do koszyka w sklepie internetowym. Takie dane są zaszyfrowane w sposób uniemożliwiający dostęp do nich osobom nieuprawnionym. Źródło: http://wszystkoociasteczkach.pl/po-co-sa-ciasteczka/

Zamknij